Bottom-up-Analyse + motorisierte Z-Achse, Autofokus
Galvanische Beschichtungen
Elektronische Bauteile, Halbleiter, Steckverbinder
Galvanische Schichten auf großen Bauteilen
Für eine große Probenvielfalt
Gedruckte Leiterplatten, Leiterrahmen, dünne Drähte, Wafer
Für besondere Anforderungen an einen kleinen Messfleck
Messung von der kleinsten Elektronikfunktionen
Präzise Messung von sehr großen Leiterplatten und Wafern
Bowman Beschichtungs-Messsysteme
Präzise Messungen von Al 13 bis U 92
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Garantiert IPC 4552-fähig
Schichtdickenmessung, Elementanalyse, Badanalyse
Messen Sie gleichzeitig Substrat und 4 Beschichtungsschichten, einschließlich ultradünner Filme
Kompetenter technischer Support vor Ort
Verfügbares RoHS-Paket
RFAs der A-Serie sind SEMI S2- und S8-konform
