Vorteile der RFA Technik
Die RFA ist sehr empfindlich gegenüber metallischen Elementen, insbesondere den Elementen Ti bis U im Periodensystem. Für die Schichtdickenanalyse ist die RFA auf jede metallische Beschichtung, ein- oder mehrschichtig, und auf jedes metallische oder nichtmetallische Substrat im Bereich durchdringbarer Schichten anwendbar.
Bei der Legierungsanalyse kann die RFA die prozentuale Zusammensetzung für jedes Legierungselement und die Legierungsnummer bestimmen. Bei der Badanalyse können Metallionen in galvanischen Bädern zur Prozesskontrolle quantifiziert werden.
Hauptmerkmale der Bowman Systeme
RFA Detektor Technik
Vergleich verschiedener Detektortechnologien, die in Röntgenfluoreszenzsystemen verwendet werden.
Proportionalzähler
- Hohes Grundrauschen
- Geringe Auflösung
- Instabil bei Temperatur- und Feuchtigkeitsänderung
- Erfordert ständiges Rekalibrieren
Silizium PIN Diode
- Niedriges Grundrauschen
- Gute Auflösung
- Gute Nachweisgrenzen
- Peltiergekühlt: sehr stabil - keine Klimaeinflüsse
Silizium Drift Detektor (SDD)
- Geringstes Grundrauschen
- Höchste Zählraten
- Beste Auflösung
- Niedrigste Nachweisgrenzen
- Größte Flexibilität für breiteste Elementpalette
- Peltiergekühlt: sehr stabil - keine Klimaeinflüsse
Alle Bowman XRF-Instrumente verwenden Siliziumdriftdetektoren für höchste Auflösung, niedrigste Rauschpegel und größte Gesamtstabilität.
Das gewährleistet genaue Schichtdickenmessungen und Elementanalysen.
