Röntgenfluoreszenzanalyse

Die Schichtdickenmessung mittels Röntgenfluoreszenzanalyse ist in vielen Bereichen ein wichtiges Instrument zur Überprüfung und Gewährleistung gleichbleibender Qualität.

Schichtdickenmessungen kommen zum Tragen, wenn es beispielsweise um die allgemeine Metallveredelung geht.

Im elektronischen Bereich spielt die Schichtdickenmesung eine Rolle bei der Prüfung von z. B. Leiterplatten und Halbleitern.

Auch wenn es um Schmuck geht ist die Schichtdickenmessung mittels RFA-Analyse das Mittel der Wahl: Elemente wie Silber, Gold, Palladium etc. können von allen Geräten der Bowman Serien gemessen werden.

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kontaktform DEPraDipl.-Ing Andreas Prager | Dipl.-Ing. Dietmar Denker